關(guān)于IC芯片測(cè)試
發(fā)布日期：2022-12-08 09:32
一、IC電性能測(cè)試
模擬電路測(cè)試一般又分為以下兩類測(cè)試，第一類是直流特性測(cè)試，主要包括端子電壓特性、端子電流特性等；第二類是交流特性測(cè)試，這些交流特性和該電路完成的特定功能密切有關(guān)，比如一塊色處理電路中色解碼部分的色差信號(hào)輸出，色相位等參數(shù)也是很重要的交流測(cè)試項(xiàng)目。
數(shù)字電路測(cè)試也包含直流參數(shù)、開關(guān)參數(shù)和特殊功能的特殊參數(shù)等。需要通過利用掃描鏈輸入測(cè)試向量（test
pattern）測(cè)試各個(gè)邏輯門、觸發(fā)器是否工作正常。常見直流參數(shù)如高（低）電平最大輸入電壓、高（低）電平輸入電流等。開關(guān)參數(shù)包含延遲時(shí)間、轉(zhuǎn)換時(shí)間、傳輸時(shí)間、導(dǎo)通時(shí)間等。觸發(fā)器特殊的最大時(shí)鐘頻率、最小時(shí)鐘脈沖寬度等。還有噪聲參數(shù)等等。
從生產(chǎn)流程方面的測(cè)試講，IC測(cè)試一般又分為芯片測(cè)試、成品測(cè)試和檢驗(yàn)測(cè)試，除非特別需要，芯片測(cè)試一般只進(jìn)行直流測(cè)試，而成品測(cè)試既可以有交流測(cè)試，也可以有直流測(cè)試，在更多的情況下，這兩種測(cè)試都有。在一條量產(chǎn)的生產(chǎn)線上，檢驗(yàn)測(cè)試尤為重要，它一般進(jìn)行和成品測(cè)試一樣的內(nèi)容，它是代表用戶對(duì)即將入庫(kù)的成品進(jìn)行檢驗(yàn)，體現(xiàn)了對(duì)實(shí)物質(zhì)量以及制造部門工作質(zhì)量的監(jiān)督。
二、IC測(cè)試過程
IC測(cè)試一般它分為兩大部分：前道工序和后道工序。
前道工序
（1）將粗糙的硅礦石轉(zhuǎn)變成高純度的單晶硅。
（2）在Wafer上制造各種IC元件。
（3）測(cè)試Wafer上的IC芯片。
后道工序
（1）對(duì)Wafer（晶圓）劃片（進(jìn)行切割）
（2）對(duì)IC芯片進(jìn)行封裝和測(cè)試。
掃描進(jìn)入手機(jī)版
關(guān)注我們